Téléchargement des présentations de NIDays 2012

Techniques de développement logiciel	Enseignement	Énergie
Test automatique et instrumentation	Médical	Transports
Acquisition de données et test de structures	Radio-fréquences	Business & Managers
Surveillance et contrôle/commande embarqués	Semi-conducteurs	Aéronautique et Défense

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	Ampère 9	Ampère 1	Ampère 5	Ampère 3	Apollinaire 2	Ampère 2	Ampère 6	Ampère 7	Ampère 8
08:30	Petit déjeuner
09:00	Conférence plénière Introduction, par Frédérick DRAPPIER, directeur général de National Instruments France Quoi de neuf dans la conception graphique de systèmes, par Darcy DEMENT, directrice marketing de NI France Vision et futur de National Instruments, par Alex DAVERN, vice-président exécutif, directeur général et directeur financier
10:00	Pause et visite de l'exposition
10:30	Introduction à la programmation graphique LabVIEW à travers des démonstrations Introduction à la programmation graphique LabVIEW à travers des démonstrations Découvrez l'outil de développement graphique phare de National Instruments pour les applications de mesure et d'automatisation. Cette session présentera les possibilités de créer des faces-avant personnalisées, le diagramme, la compilation et les méthodes de mise au point. Nous verrons les nombreuses fonctions de traitement du signal et d'analyse mathématiques ainsi que les possibilités d'exploiter un large éventail de matériels de mesure et d'acquisition de données. Intervenant : Jean-Luc DELAY Entreprise : National Instruments Close	Introduction à la programmation de FPGA avec LabVIEW Introduction à la programmation de FPGA Vous avez des besoins spécifiques pour vos applications et vous ne trouvez pas la solution à vos besoins ? Que ce soit pour faire de l’acquisition de données intelligente, du contrôle haute vitesse, des protocoles de communication, du traitement de données, du coprocessing, des systèmes embarqués… venez découvrir comment la technologie FPGA et la programmation graphique LabVIEW vous permettent de développer des applications sur mesure, fiables et rapides. Intervenant : Mathieu BREGEON Entreprise : National Instruments Close	Quoi de neuf en instrumentation : numériseurs haute vitesse, analyse spectrale jusqu'a 26,5 GHz… Quoi de neuf en instrumentation Venez découvrir les nouveautés en instrumentation modulaire de NI. Apprenez à utiliser ces appareils de mesure compacts, hautes performances, avec des ressources de cadencement et de synchronisation intégrées bien mieux adaptées au test automatique que les appareils de mesure classiques. Côté matériel, ce type d'instrument de mesure intègre les toutes dernières technologies en matière de convertisseurs A/N et N/A, de circuits FPGA et de bus informatiques, pour offrir des résolutions jusqu'à 7 chiffres 1/2, des fréquences jusqu'à 26,5 GHz et des vitesses de transfert de données élevées. Côté logiciel, l'instrumentation de mesure de NI bénéficie du support d'environnements puissants comme NI LabVIEW, qui vous permettra de personnaliser vos mesures et d'effectuer des traitements sophistiqués. Intervenant : Rémi DA SILVA Entreprise : National Instruments Close	Mesurer tout type de grandeurs avec tout type de capteurs de 1 à 10000 voies Mesurer tout type de grandeurs avec tout type de capteurs de 1 à 10000 voies Le conditionnement du signal permet de mesurer une très grande variété de capteurs en transformant l'information de sortie vers une tension numérisable. Cette session présente les méthodes fondamentales et les matériels associés pour connecter divers capteurs et comment utiliser les fonctions DAQmx sous LabVIEW pour la mise en œuvre. Intervenant : Jean Philippe CHARMET Entreprise : National Instruments Close	Quoi de neuf en contrôle/commande et systèmes embarqués (RIO, WSN...) ? Quoi de neuf en contrôle/commande et systèmes embarqués ? Venez découvrir les nouveautés matérielles pour les applications de contrôle/commande et pour les systèmes embarqués CompactRIO avec le nouveau CompactRIO multicœur, la nouvelle carte SingleBoard-RIO, les nouveaux modules WSN pour ajouter des mesures sans fil à vos applications... Intervenant : Mathieu PACE Entreprise : National Instruments Close	Les nouveautés dans l'enseignement et la recherche Les nouveautés dans l'enseignement et la recherche Leader dans l'industrie, National Instruments s'investit depuis de nombreuses années dans l'enseignement à travers son Programme pour l'Enseignement (NI Academic Program). Ce programme ayant pour principal objectif de former les ingénieurs de demain, il ambitionne néanmoins de susciter les vocations scientifiques chez les plus jeunes et de réconcilier les nouvelles générations d'étudiants avec les sciences et l'ingénierie. Venez découvrir comment National Instruments collabore avec le monde de l'Enseignement et rencontrer notre équipe dédiée à l'Enseignement. Intervenant : Frédéric BOULLOT Entreprise : National Instruments Close	Banc de validation GSM/WCDMA/LTE chez ST-Ericsson Banc de validation GSM/WCDMA/LTE chez ST-Ericsson ST-Ericsson a développé un banc de validation pour émetteur/récepteurs RF. Il s’agit de réaliser l’évaluation des performances d’un circuit intégré mixte à fort complexité utilisant différents protocoles de radiocommunication (GSM, WCDMA, LTE) en faisant varier tout un ensemble de paramètres : puissance, température, fréquence, débit numérique… Grâce à cette architecture basée sur de l’instrumentation modulaire PXI Express RF, on a pu réduire considérablement les coûts et les temps de test. Intervenant : Sylvain BERTRAND Entreprise : ST Ericsson Close	Utilisation d'un système CompactRIO pour la mise en œuvre de réseau de distribution d'électricité Utilisation d'un système CompactRIO pour la mise en oeuvre de réseau de distribution d'électricité Dans cette présentation, nous verrons comment les plates-formes CompactRIO et SB-RIO sont utilisées pour la création d'instruments sur étagère dédiés à l'analyse de la qualité du réseau électrique et les mesures de phase synchrones. Nous exposerons les avantages de ces outils matériels et logiciels pour réaliser des solutions professionnelles pour l'industrie électrique ainsi que des exemples d'applications pour la transmission de l'énergie et la distribution électrique. Intervenant : Daniel KAMINSKI Entreprise : ELCOM Close	Tout ce que les acheteurs ont besoin de savoir à propos de NI Tout ce que les acheteurs ont besoin de savoir à propos de NI Lors de cette session dédiée aux acheteurs, nous expliquerons brièvement l’activité de NI à travers des exemples d’applications, puis nous aborderons les conditions générales de vente, les conditions de réexportation, les contrats et accords sur conditions commerciales, les services proposés (formations, garantie…) et l’intégration des matériels et logiciels NI via le programme Alliance. Intervenant : Frédéric BOUQUET Entreprise : National Instruments Close
11:15	Nouveautés de LabVIEW 2011 Nouveautés de LabVIEW 2011 Découvrez les nouvelles fontionnalités du logiciel NI LabVIEW 2011 à travers des démonstrations. Au programme : les nouveaux objets graphiques, les 13 améliorations suggérées par les utilisateurs comme l'appel asynchrone de VI et les nouveautés temps réel et FPGA Intervenant : Mathieu TUR Entreprise : National Instruments Close	Comment bien architecturer une application temps réel et FPGA ? Comment bien architecturer une application temps réel et FPGA ? Lorsque vous avez des contraintes de temps (déterminisme, rapidité, fiabilité…), l'utilisation d'un matériel temps réel et FPGA est souvent la meilleure solution. La plate-forme RIO combine la puissance de calcul des processeurs, un FPGA pour personnaliser son matériel et des E/S. Dans cette présentation, vous découvrirez les bonnes pratiques de programmation pour exploiter au mieux cette architecture dans vos applications. Intervenant : Eric MAUSSION Entreprise : National Instruments Close	Les stratégies pour la gestion de l'obsolescence et la pérennité des systèmes de test Les stratégies pour la gestion de l'obsolescence et la pérennité des systèmes de test De nombreux systèmes de tests doivent être opérationnels pendant longtemps et il arrive que les composants de ces systèmes ne soient plus supportés, ce qui pose problème. Il est donc nécessaire de se baser sur des solutions pérennes et surtout de prendre les bonnes mesures afin de gérer au mieux le phénomène d’obsolescence. Lors de cette présentation, vous découvrirez les différents bus de données utilisés en instrumentation, les avantages de certaines plates-formes, les bonnes pratiques ainsi que l’offre de services National Instruments. Intervenant : Romain DUVAL Entreprise : National Instruments Close	Fondamentaux sur les principes de mesures analogiques, les capteurs et les masses Fondamentaux sur les principes de mesures analogiques, les capteurs et les masses Qui n'a pas été confronté(e) à des mesures incohérentes sans savoir pourquoi ? La plupart du temps, une petite révision des principes de la mesure avec les entrées analogiques permet de résoudre tous les problèmes. Comment connecter les masses sans tout détruire ? Faut-il une isolation ? À quoi servent les modes, comment connecter des capteurs en en tenant compte ? La vitesse d'échantillonnage est-elle adaptée ? D'où vient le bruit sur ma mesure ? Quelques questions pour lesquelles une révision des fondamentaux peut apporter des réponses. Intervenant : Emmanuel ROSET Entreprise : National Instruments Close	Comment concevoir un système autonome de surveillance et d'enregistrement avec le CompactRIO Comment concevoir un système autonome de surveillance et d'enregistrement avec le CompactRIO Dans le domaine de la maintenance, il est important de pouvoir surveiller de manière continue et sans action humaine un processus ou une machine afin de prévenir de tout risque de casse ou d’incident. Cette surveillance est couplée avec un enregistrement de données permettant de pouvoir analyser tel ou tel événement ayant produit une panne ou une alarme. Dans ce contexte, il est nécessaire de mettre en place des architectures matérielles et logicielles, capables de fonctionner sans interruption ni intervention extérieure. Cette présentation a pour but de montrer les bons usages pour développer ce type d’application. Intervenant : Lionel GIROD Entreprise : STEP AUTOMATION & TEST Close	Réalisation de travaux pratiques de systèmes embarqués Réalisation de travaux pratiques de systèmes embarques Lors de cette session, nous ferons le point sur les solutions embarquées autour de la plate-forme CompactRIO et sur le cycle en V. Nous verrons des exemples d'applications et de mises en œuvre qui peuvent être intégrés à des sessions de TP de systèmes embarqués ainsi qu'un exemple de TP de contrôle/commande aujourd'hui mis en place dans une école d'ingénieurs. Intervenant : Yannick DEGLA Entreprise : National Instruments Close	Techniques avancées d'analyse de signaux RF Techniques avancées d'analyse de signaux RF Si on veut tirer parti de chaque décibel de la gamme dynamique pour effectuer une mesure avec un analyseur de signaux vectoriels, il faut être attentif à certains paramètres comme le niveau de référence, la puissance de l'OL, la bande passante IF, etc. Au cours de cette session, nous allons étudier les interactions entre ces paramètres et leur impact sur la précision et la répétabilité des mesures. Nous verrons également quelques techniques pour savoir si on s'intéresse à la précision de l'unité sous test ou à celle de l'instrument. Intervenant : Olivier LAURENT Entreprise : National Instruments Close	Banc de test des automates du système de contrôle/commande de la centrale nucléaire de Dungeness Banc de test des automates du système de contrôle/commande de la centrale nucléaire de Dungeness Les automates de niveau 1 du système de contrôle/commande de la Centrale de Dungeness doivent avoir un niveau d’intégrité SIL2 (norme IEC 61508). Les tests intégrés de chacun de ces automates sont nombreux, volumineux et diffèrent suivant l’automate à tester. La présentation portera sur le banc de test configurable qui a été mis en œuvre pour faciliter l’automatisation et la traçabilité de cette phase de test. Auteur : Jean-François LE GALL Entreprise : ATOS Close	Les meilleures stratégies pour réduire le coût du test Les meilleures stratégies pour réduire le coût du test Lors de cette session, nous expliquerons quel est le coût réel d'un système de test, du développement au déploiement en passant par les coûts opérationnels. À travers des exemples concrets, nous verrons comment certains clients de NI ont réduit le coût de leurs tests en mettant en place des stratégies de standardisation et de formation. Intervenant : Ian MATTHEWS Entreprise : National Instruments Close
12:00	Déjeuner et visite de l'exposition					Prototypage d'un buggy électrique à l'IUT de Cachan Prototypage d'un buggy électrique à l'IUT de Cachan Dans le domaine de l’automobile, le renouveau des véhicules électriques donne un nouveau souffle à la filière du génie électrique et de l’informatique industrielle. En effet, nos étudiants sont très réceptifs à la pédagogie par projet, notamment sur des applications concrètes et à fort impact sociétal. Nous présenterons la mise en œuvre d’un buggy tout électrique à l’aide d’un CompactRIO, la supervision à l’aide d’un écran tactile NI PPC 2115, la gestion d’obstacle avec une smart caméra NI 1722 et l’utilisation de modules GPS et ZigBee de la société S.E.A. La présentation se voudra didactique et surtout technique sur les choix de matériels et sur la programmation utilisés sur le véhicule. Notamment, nous aborderons : l’acquisition de données, le traitement d’images, l’interface homme-machine, l’enregistrement de données et la communication sans fil. Intervenant : Ghislain REMY Entreprise : IUT Cachan Close	Techniques et méthodes pour l'analyse de réseau vectorielle Techniques et methodes pour l'analyse de réseau vectorielle Les VNA (analyseurs de réseau vectoriels) sont des instruments complexes, utilisés par les ingénieurs pour effectuer une très grande variété de mesures. Lors de cette session, nous expliquerons quelques méthodes d'étalonnage, nous explorerons des concepts de mesure avancés, incluant les mesures dans le domaine temporel. Intervenant : Richard KEROMEN Entreprise : National Instruments Close	Système embarqué de surveillance et de contrôle pour une application de soudage semi-automatisée de pipelines chez Serimax Système embarqué de surveillance et de contrôle pour une application de soudage semi-automatisée de pipelines chez Sérimax Serimax a développé une nouvelle machine de soudage automatique de pipelines, respectant les standards les plus sévères en matière de fiabilité, de qualité et pouvant fonctionner dans des conditions climatiques extrêmes. Lors de cette session, nous présenterons et expliquerons l’architecture de notre nouveau système ainsi que les avantages de notre solution basée sur LabVIEW et le matériel NI CompactRIO. Intervenant : Pascal WATTELLIER Entreprise : SERIMAX Présentation non disponible au téléchargement Close	Comment intégrer des produits NI sur étagère dans vos systèmes embarqués ? Comment intégrer des produits NI sur étagère dans vos systèmes embarqués ? Après avoir cité quelques exemples d’applications de systèmes embarqués, nous verrons quelles sont la pérennité et la compatibilité des produits. Nous expliquerons les technologies disponibles pour la conception de systèmes embarqués et nous comparerons le coût des produits sur étagère par rapport aux produits personnalisés. Nous expliquerons également la politique en termes de contrats et d’accords sur les conditions commerciales. Intervenant : Renaud COURTOIS Entreprise : National Instruments Close
12:45	Démystifier la mise en œuvre de la programmation orientée objet sous LabVIEW Démystifier la mise en oeuvre de la programmation orientée objet sous LabVIEW La programmation orientée objet est une technologie qui apporte évolutivité et modularité dans vos développements. Venez découvrir comment mettre en œuvre cette manière de programmer dans vos projets LabVIEW. La présentation s'appuiera sur une démonstration des concepts de base à partir d'un exemple concret et exposera des cas réels d'applications. Intervenant : Mathilde VINCENT et Olivier JOURDAN Entreprise : SAPHIR Close	Techniques de programmation avancées pour la programmation en C ANSI avec LabWindows/CVI Techniques de programmation avancées pour la programmation en C ANSI avec LabWindows/CVI Lors de cette session, nous expliquerons comme tirer parti des outils proposés par LabWindows/CVI et nous verrons quelles sont les technologies qui seront implémentées dans les prochaines versions de LabWindows/CVI. Les bibliothèques et les modules de LabWindows/CVI permettent une intégration étroite du matériel avec les toutes dernières technologies comme le PXI, le FPGA, le temps réel et le traitement multithread. Avec les outils de débogage avancés comme le Resource Tracking et l'Execution Profiler associés à LabWindows/CVI, vous pouvez trouver les erreurs et les goulots d’étranglement plus facilement et ainsi optimiser votre code. Intervenant : Anna KOZMINSKI Entreprise : National Instruments Corporate Close	Du modèle de conception au test temps réel avec une plate-forme logicielle unique Du modèle de conception au test temps réel avec une plate-forme logicielle unique Lors de cette session, venez découvrir, à travers un exemple d'application, la mise en œuvre des différentes étapes de validation temps réel (MIL, RCP, Déploiement, HIL et test physique) de vos systèmes tout au long du cycle de conception. Basée sur un environnement unique de conception, cette approche intègre des solutions logicielles et matérielles, flexibles et réutilisables qui assurent la continuité du test et de la validation temps réel tout au long du cycle de conception. Intervenant : Karine ROUELLE Entreprise : National Instruments Close	Mesurer et analyser les signaux acoustiques et vibratoires avec LabVIEW Mesurer et analyser les signaux acoustiques et vibratoires avec LabVIEWs L'analyse acoustique et vibratoire est très utilisée dans différents domaines : en R&D lors de la mise au point de produits grand public, pour la qualité de systèmes audio, les tests structurels de génie civil, la détection de problèmes mécaniques ou la surveillance de machines. Nous allons, dans cette session, vous présenter les différentes architectures des solutions qui ont été réalisées dans le domaine acoustique et vibratoire ainsi que les outils utilisés. Vous découvrirez ainsi les matériels de mesure, conditionnements, les outils d'analyse et de traitement du signal d'un simple capteur aux solutions avec des centaines de voies synchronisées. Intervenant : Guillaume HYVERT Entreprise : National Instruments Close	Quoi de neuf en LabVIEW Real-Time et LabVIEW FPGA Quoi de neuf en LabVIEW Real-time et LabVIEW FPGA Venez découvrir les nouvelles fonctionnalités des Modules LabVIEW Real-Time et FPGA. Durant la présentation, nous verrons comment la version 2011 de ces modules vous permet de gagner du temps de développement grâce aux fonctions d'éditions améliorées, l'optimisation des transferts d'applications vers les cibles temps réel ou encore l'utilisation des fonctions avancées des outils Xilinx. Intervenant : Florent ARGOT Entreprise : National Instruments Close	Déjeuner et visite de l'exposition
13:30	Visite de l'exposition
14:00	Conférence plénière Comment les scientifiques, les ingénieurs et les enseignants améliorent le monde à l'aide de LabVIEW, par Ray ALMGREN, vice-président responsable marketing produits logiciels, d'acquisition de données et pour l'enseignement, NI Corporate Croire au pouvoir de nos rêves pour innover, par Patrick BAUDRY, astronaute
15:15	Comment améliorer les performances de vos applications LabVIEW Comment améliorer les performances de vos programmes LabVIEW Optimiser son code LabVIEW, c'est améliorer l'efficacité comme la gestion de la mémoire et améliorer la vitesse d'exécution de votre programme. Dans cette session, nous allons vous présenter comment identifier les zones de votre code qui nécessitent des améliorations et tous les outils nécessaires à l'optimisation. Au programme : algorithmes d'évaluation des performances, outils de profils, gestion mémoire et allocation des buffers, bonne utilisation de la structure Élément en place, comportement du compilateur, inlining, constant folding (réduction des constantes), options des propriétés d'exécution et threads, etc. Intervenant : Antoine PALLADINI Entreprise : ARCALE Close	Mise en œuvre des outils de gestion et de suivi de gros projets LabVIEW Mise en œuvre des outils de gestion et de suivi de gros projets LabVIEW Lors du développement d'une application LabVIEW, une équipe est souvent en charge du suivi du projet et de la programmation. Lorsque vous envisagez de concevoir une application LabVIEW qui nécessite des vérifications, validations de code ou certifications ainsi qu'un suivi de l'avancement du projet par un rapport, alors il devient nécessaire de disposer d'outils adaptés. Vous découvrirez ces outils ainsi que des exemples de mise en œuvre dans cette session. Intervenant : Samuel PACEY Entreprise : STYREL TECHNOLOGIES Close	Techniques et astuces pour l'enregistrement de données haute vitesse Techniques et astuces pour l'enregistrement de données haute vitesse La plate-forme PXI est bien adaptée à l'enregistrement haute vitesse. Le PXI, basé sur les bus PCI et PCI Express à large bande passante, permet aux instruments de transférer des données depuis et vers des racks de disques durs RAID 0 (entrelacés), avec des vitesses soutenues. Les systèmes d'enregistrement et de relecture RF de National Instruments combinent des analyseurs et des générateurs de signaux RF PXI à des racks RAID, pour un enregistrement et une relecture haute vitesse et longue durée. Avec la capacité de générer ou d'acquérir des téra-octets de données en continu, les instruments PXI vous permettent d'implémenter des applications qui n'étaient auparavant possibles qu'avec du matériel personnalisé, telles que : la surveillance de spectres l'espionnage de paquets la conception, la validation et la vérification des récepteurs sans fil les tests BER de diffusion vidéo numérique. Intervenant : Jean-Baptiste CHOLAT Entreprise : National Instruments Close	Quoi de neuf en acquisition de données ? Quoi de neuf en acquisition de données ? Découvrez les nouveaux matériels d'acquisition en USB, Ethernet et sans fil (WiFi) et comment les utiliser, par exemple, avec un récapitulatif des principes d'utilisation des réseaux : routeurs, switchs, Hubs, DHCP, DNS, ping, en infrastructure et en HadHoc Intervenant : Jean-Luc DELAY Entreprise : National Instruments Close	Outils de vision industrielle et exemples de mise en œuvre Outils de vision industrielle et exemples de mise en œuvre Venez découvrir et vous initier à l'acquisition et au traitement d'images selon National Instruments, un des premiers fournisseurs de matériels et de logiciels de vision industrielle et d'imagerie scientifique. De l'inspection de pièces automobiles aux recherches médicales avancées, les ingénieurs et scientifiques utilisent les logiciels et matériels de vision NI pour résoudre différents types d'applications, plus rapidement et à moindre coût. Intervenant : Sami BEN FATHALLAH Entreprise : ALLIANCE VISION Close	Glaucome : mesure et contrôle des variations de pression intraoculaire sur un œil artificiel Glaucome : mesure et contrôle des variations de pression intraoculaire sur un œil artificiel La société Ophtimalia met au point un dispositif permettant l’enregistrement de la pression intraoculaire en continu afin d’aider à l’amélioration du diagnostic et du traitement du glaucome. Dans le but de caractériser ses capteurs avec une précision maximale, Ophtimalia a développé un banc automatique basé sur du matériel National Instruments contrôlé par LabVIEW et capable de reproduire les conditions de variations de pression à l’intérieur d’un œil artificiel. Intervenant : Philippe CAUVET Entreprise : OPHTIMALIA Présentation non disponible au téléchargement Close	Nouvelles tendances technologiques et exemples d'applications pour le test de semi-conducteurs Nouvelles tendances technologiques et exemples d'applications pour le test de semi-conducteurs La complexité de la nouvelle génération de composants électroniques ainsi que leur intégration de plus en plus dense, implique l’utilisation de systèmes modulaires et flexibles, caractérisés par des temps de test courts ainsi que par une variété et un nombre d’E/S importants. Ces besoins se font sentir non seulement pour la conformité aux exigences et la qualité de développement depuis la conception jusqu'à la production, mais aussi pour l’automatisation des tests et l’intégration de plates-formes de mesure industrielle. Venez découvrir les tendances technologiques ainsi que des exemples d’applications pour le test de semi-conducteurs. Intervenant : Chris WHITE Entreprise : National Instruments Close	Architecture d’un banc de test distribué "Iron Bird" dans le domaine ferroviaire sous NI VeriStand Architecture d’un banc de test distribué "Iron Bird" dans le domaine ferroviaire sous NI Veristand Dans le domaine de l’industrie ferroviaire, nous présenterons l’architecture d’un banc de test distribué de type"IronBird". Ce projet constitué de 19 bancs génériques de simulation d’environnement ou de simulation de calculateurs sur un environnement temps réel, pilotés par un système de supervision, permet l’intégration et la validation de l’ensemble des calculateurs d’un train en cours de développement. Nous exposerons les contraintes et les solutions associées à ce type d’architecture. intervenant : Xavier BERGER Entreprise : Safran Engineering Service Présentation non disponible au téléchargement Close	Les nouvelles tendances technologiques du test automatique et de l’instrumentation pour la défense et l'aéronautique Les nouvelles tendances technologiques du test automatique et de l’instrumentation pour la défense et l'aéronautique Lors de cette session, nous présenterons les toutes dernières technologies et tendances qui influencent les systèmes de validation, vérification et test dans les domaines de la défense et de l'aéronautique. Au programme : l'intégration de la conception et du test en RF, l'intérêt de la bande passante du PCI Express, l'intégration des technologies mobiles dans les systèmes de test. Intervenant : Ian MATTHEWS Entreprise : National Instruments Close
16:00	Construire des interfaces homme-machine LabVIEW toujours plus efficaces : commandes personnalisées, onglets, couleurs … Construire des interface homme-machine LabVIEW toujours plus efficaces Afin d'exploiter au mieux toutes les fonctionnalités de vos applications, il est important d'avoir une interface utilisateur claire et efficace. Dans cette session, nous verrons comment mettre en valeur les informations importantes de vos applications à travers des démonstrations sur les images de fond, les commandes personnalisées, les commandes X, les commandes onglets, les sous-panneaux, les écrans de chargements... Intervenant : Nicolas MARQUET Entreprise : National Instruments Close	Dépasser les limitations de Microsoft Excel pour l'analyse et le rapport de données LabVIEW avec NI DIAdem Dépasser les limitation de Microsoft Excel Après avoir effectué des mesures, la plupart des ingénieurs font part de leur difficulté pour exploiter les données et en tirer des résultats. Souvent, les ingénieurs utilisent des outils de bureautique orientés finance comme Excel pour exploiter les données. Dans cette session, nous verrons que d'autres outils comme NI DIAdem, NI Datafinder et le format TDMS, permettent d'exploiter les données d'ingénierie plus efficacement et plus rapidement. Intervenant : Guillaume HYVERT Entreprise : National Instruments Close	Comment repousser les limites de vos applications d'instrumentation grâce à la technologie FPGA Comment repousser les limites de vos applications d'instrumentation Le test de matériels devient de plus en plus difficile à mettre en œuvre, du fait de la complexité croissante des produits à tester et de l’extension de leur capacité de communication. Grâce au matériel NI d'E/S reconfigurables (RIO) à base de FPGA, vous pouvez programmer vos tests graphiquement avec le Module NI LabVIEW FPGA, pour qu'ils soient exécutés à l’intérieur du matériel. Cette méthode, dite de test en temps réel, augmente non seulement le débit de test mais permet également d'effectuer des tests impossibles auparavant avec le matériel "sur étagère", comme les tests de protocoles et les tests de stimulus-réponse haute vitesse. Venez découvrir comment repousser les limites de vos applications d’instrumentation. Intervenant : Alexandre MAUGERE Entreprise : National Instruments Close	Tirer le maximum de l'acquisition de données : cadencement, comptage, synchronisation… Tirer le maximum de l'acquisition de données : cadencement, comptage, synchronisation… Lors de cette session avancée, nous ferons le point sur certaines fonctions des cartes d'acquisition comme le comptage et l'utilisation des buffers matériels, les moteurs de cadencement, les déclenchements, les routages et synchronisations entre matériels. Intervenant : Jean Philippe CHARMET Entreprise : National Instruments Close	Comment concevoir simplement des systèmes de commande d'axes performants Comment concevoir simplement des système de commande d'axes performants Le Module LabVIEW NI SoftMotion vous permet de concevoir rapidement des applications de commande d'axes performantes et flexibles. Au programme : présentation du fonctionnement du Module SoftMotion, configuration du matériel et création d’une application de pilotage de moteur sur une maquette virtuelle avec SolidWorks et déploiement sur du matériel. Intervenant : Mathieu BREGEON Entreprise : National Instruments Close	Enregistrement de la parole en milieu IRM : acquisition et traitement du signal Enregistrement de la parole en milieu IRM : Acquisition et traitement du signal Dans le domaine de la neuro-imagerie fonctionnelle, l'enregistrement de la parole du sujet peut être d'un apport crucial dans les études basées sur le langage ou dans certaines tâches cognitives complexes. Nous présenterons dans cet exemple particulier d'étude en IRM Fonctionnelle l'ensemble de la chaîne d'acquisition et de traitement et nous exposerons les multiples difficultés techniques et méthodologiques liées à l'instrumentation en milieu IRM. Intervenant : Bruno NAZARIAN Entreprise : Centre d'IRM Fonctionnelle Cérébrale, Université de Méditerranée Close	Cartographie des défauts en temps réel sur circuits intégrés chez ST-Ericsson Cartographie des défauts en temps réel sur circuits intégrés chez ST Ericsson ST-Ericsson a amélioré, grâce à l’utilisation d’une carte FPGA, une méthode classique d’isolation de défauts par balayage laser, pour permettre des investigations relatives à des paramètres complexes. Lors de cette présentation, le laboratoire d’analyse de défaillances de ST-Ericsson vous présentera la solution développée grâce aux outils National Instruments et comment celle-ci a permis la localisation d’un défaut sur un composant destiné à la téléphonie mobile. Intervenant : Sébastien CANY Entreprise : ST Ericsson Close	Architectures de test et de simulation temps réel autour des plates-formes NI et de TestInView Architectures de test et de simulation temps réel autour des plates-formes NI et de TestInView Description de la conférence à venir.... Intervenant : Claude SCHERRER Entreprise : CLEMESSY Présentation non disponible au téléchargement Close	Introduction aux systèmes de test avioniques intégrant les bus aéronautiques Introduction aux systèmes de test avioniques intégrant les bus aéronautiques Lors de cette présentation, nous verrons les produits de test et de simulation pour les applications MIL-STD-1553, ARINC-429, ARINC-664p7, Fibre Channel, et HS1760, proposés par la société ATI, fabricant de modules avioniques pour le test et la simulation de produits embarqués en vol. Nous verrons les avantages de ces solutions PXI/PXIe (revendues par NI) ainsi que d'autres fromats incluant CI(x), PCIe, VME, VXI et USB. Intervenant : Bill FLEISSNER Entreprise : Avionics Interface Technologies Close
16:45	Construisez des applications autonomes et fiables avec LabVIEW Real Time Construisez des applications autonomes et fiables avec LabVIEW Real Time Vous avez besoin d’un système fiable sans échecs logiciels ? Les réactions de vos E/S doivent être effectuées dans un temps déterminé pour une régulation ou une sécurité ? Le Module LabVIEW Real-Time offre encore bien plus ! Vos applications peuvent être embarquées sur des cibles autonomes et robustes, même si elles intègrent des analyses complexes. Intervenant : Victor FOURNIER Entreprise : National Instruments Close	Comment gérer votre système de test avec NI LabVIEW et NI TestStand : parallélisation, séquencement... Comment gérer votre système de test avec NI LabVIEW et NI TestStand : parallélisation, séquencement.. Développez vos systèmes de test automatique et de validation plus rapidement avec NI LabVIEW et NI TestStand, environnement de gestion de tests puissant et prêt-à-l'emploi. Découvrez les fonctionnalités de NI TestStand pour développer, gérer et exécuter des séquences de tests écrites dans n'importe quel langage de programmation, ainsi que pour faciliter l'intégration aux systèmes d'entreprise. Les séquences peuvent spécifier, par exemple, le flux d'exécution, la création de rapports, l'enregistrement dans des bases de données et la connectivité aux autres systèmes de l'entreprise. Intervenant : El Mehdi AFIF Entreprise : National Instruments Close	Introduction à la plate-forme PXI Introduction à la plate-forme PXI De toutes les plates-formes destinées au test, à la mesure et au contrôle, le PXI offre la bande passante la plus large, la latence la plus faible, et le choix de produits le plus vaste (1500 produits issus de 70 fabricants) avec des modules d'E/S pour des mesures haute résolution du continu jusqu'à 26,5 GHz. Venez vous familiariser avec cette plate-forme unique et découvrir ses avantages. Intervenant : Mathieu TUR Entreprise : National Instruments Close	Comment effectuer des mesures à distance, précises via des capteurs sur fibre optique Comment effectuer des mesures à distance, précises via des capteurs sur fibre optique Les mesures par fibres optiques continuent à progresser grâce à leur facilité d'utilisation et leur précision et sont souvent utilisées dans des environnements difficiles ou éloignés. Cette session fera le point sur les capteurs, leur utilisation et leur fonctionnement avec l'interrogateur NI PXIe-4844 sous LabVIEW. Intervenant : Eric MAUSSION Entreprise : National Instruments Close	Exemples d'applications et de projets étudiants dans le domaine de la robotique Projets étdudiants dans le domaine de la robotique De nos jours, la robotique se développe de plus en plus. D'abord présente en industrie, on la retrouve désormais dans notre quotidien. Elle est également un moyen ludique de faire découvrir les techniques aux étudiants en combinant différentes matières comme la mécanique, l'électronique et l'automatisme. Durant cette présentation, nous ferons un point sur les projets développés autour de la robotique dans le cadre d'enseignements du secondaire jusqu'aux écoles d'ingénieurs. Intervenant : Maxime Renaud Entreprise : National Instruments Close	Poration cellulaire par ultrasons : applications potentielles en biologie Poration cellulaire par ultrasons : applications potentielles en biologie L’internalisation de matériels génétiques, de molécules ou de particules traceuses dans les cellules in-vitro ou in-vivo présente un intérêt croissant pour les biologistes dans le but de comprendre les mécanismes intracellulaires et d’envisager des traitements thérapeutiques dédiés. Parmi les techniques de poration membranaire existante, nous présenterons la sonoporation par ultrasons et en particulier un dispositif de cavitation régulée dédié aux applications in-vitro. Intervenant : Jean-Louis MESTAS Entreprise : INSERM Close	Développement d’un environnement de test en production pour puce RF/NFC chez Inside Secure Développement d’un environnement de test en production pour puce RF/NFC chez Inside Secure Inside Secure a mis en place un système de test de puces RF/NFC en parallèle. Le but était de créer un système unique pour tous les produits, fiable et stable avec une sécurisation des données traitées. Le système développé s'appuie sur une architecture PXI et de l'instrumentation modulaire. Nous expliquerons les contraintes de l'application, les solutions apportées et les gains obtenus en termes de temps de test et de réduction du coût. Intervenant : Nicolas GASSEND Entreprise : INSIDE Secure Close	Validation de l'électronique du véhicule électrique chez Renault Validation de l'électronique du véhicule électrique chez Renault Lors de cette présentation, nous aborderons les enjeux liés au véhicule électrique. Renault a mis en place une stratégie de test, prenant en compte la gestion multiproduits, multisites et avec différents modes d'utilisation. Nous expliquerons les moyens mis en œuvre, les résultats obtenus ainsi que notre retour d'expérience. Intervenant : Mathieu PRUVOST Entreprise : RENAULT Présentation non disponible au téléchargement Close	Gestion d'obsolescence d'un bus avionique en FPGA avec la carte FlexRIO chez Thales Gestion d'obsolescence d'un bus avionique en FPGA avec la carte FlexRIO chez Thalès Dans le domaine de l’aéronautique, la durée de vie des équipements avioniques est très importante, de plusieurs décennies. Durant toute cette période, leurs moyens de test associés doivent être maintenus en condition opérationnelle et rester toujours aussi performants. Pour répondre à un besoin en validation d’un bus avionique dont les ressources de test étaient devenues obsolètes par leur conception matérielle et logicielle, une solution basée sur les technologies PXI et FPGA de National Instruments a été retenue. Nous présenterons à travers cette application, les différentes étapes qui nous ont conduit à concevoir ce type de ressource qui utilise les cartes FlexRIO et le logiciel LabVIEW FPGA de National Instruments. Intervenant : Cédric JAMET et Jérémy MICHEL Entreprise : DT2E Close
17:30	Cocktail de clôture et finale des coupes Robotique sur l'exposition

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