You are here

Webcast Communications RF & sans fil

Webcast Communications RF & sans fil

Cette série de présentations multimédias en six parties aborde tous les types d'applications RF et sans fil.

Participez à cette série de présentations multimédias pour découvrir comment tirer parti d'une plate-forme définie par logicielle et modulaire pour réduire les temps de test RF et accélérer la phase de prototypage sans fil. Des experts en la matière répondront en direct à vos questions.
Ce webcast est destiné aux ingénieurs d'essais, aux techniciens et aux responsables qui cherchent à réduire suffisamment les coûts des tests RF et sans fil pour continuer à appliquer des prix unitaires convenables.

Remarques importantes :

  • Les présentations seront données en anglais
  • Vous pourrez poser toutes vos questions pendant et à l'issue de la session via le t'chat
  • Date de l'événement : du 1er au 3 décembre 2015
  • Horaires : le début des présentations est programmé selon l'heure normale d'Europe centrale (UTC+1)

 

Thèmes des présentations :

 

Le test RF à l'ère de l'Internet des Objets et de la 5G

Pour créer les systèmes connectés de demain et relever les futurs défis du domaine de la RF et du sans fil, l'adoption d'une approche basée plate-forme semble incontournable. Cela sous-entend le test de milliards de matériels reliés à l'Internet des Objets, et le prototypage de nouveaux signaux et d'interfaces herziennes pour la communication 5G. Cette présentation décrira le rôle des systèmes modulaires et reconfigurables dans l'adaptation des technologies et des applications de systèmes sans fil aux futurs besoins.
Intervenant : Jeremy Twaits, Ingénieur produit, National Instruments
 

Revoir la présentation

Test de connectivité mobile, WLAN et Bluetooth avec NI Wireless Test System

L'Internet des Objets suscite l'augmentation constante de la demande de tests de périphériques mobiles et de connectivité RF rapides, précis et rentables. Découvrez comment NI Wireless Test System (WTS) permet aux fabricants de grands volumes de matériel cellulaire et sans fil de répondre à ces spécifications. Lors de cette session, vous découvrirez des solutions de fabricants de matériel sans fil de type périphériques WLAN et Bluetooth, téléphones portables et systèmes de connectivité automobiles.
Intervenant : Alejandro Buritica, Responsable Marketing produit, National Instruments

 Revoir la présentation

104x82

Test RFIC, de la R&D à la production : choisir la bonne méthode pour réduire le coût des tests

L'explosion de technologies sans fil pousse les ingénieurs à accélérer sans cesse le passage des circuits intégrés RF (RFIC) de la R&D à la phase de production, et ce, toujours à moindre coût. Cette session abordera quelques unes des technologies-clés utilisées pour le test de circuits intégrés RF en R&D, telles que le suivi d'enveloppe et la pré-distortion numérique. Vous découvrirez les nouvelles fonctionnalités de NI Semiconductor Test System, dédiées à l'intégration en cellule de test en production.
Intervenant : Haydn Nelson, Responsable Marketing produit, National Instruments

 Revoir la présentation

104x82

Capture de signaux temps réel et analyse de signaux transitoires

Un signal transitoire peut être soit un événement ponctuel, soit un événement périodique dont la durée est proportionnellement beaucoup plus courte que la période du signal. Dans les systèmes RF et hyperfréquences, ce type d'événements peut être généré intentionnellement sous forme d'impulsions (signaux radar), de bruit ou d'interférences transitoires. Lors de cette présentation, il sera question des techniques d'analyse et de capture de signaux temps réel large bande qui permettent de fournir aux ingénieurs des informations cruciales pour procéder à l'analyse de cause fondamentale et définir des stratégies d'atténuation.
Intervenant : Abhay Samant, Responsable produit RF, National Instruments

 Revoir la présentation

104x82

Conception, simulation et test de systèmes et sous-systèmes radar

La conception et le test de systèmes et sous-systèmes radar requièrent une combinaison sophistiquée de matériel et de logiciel. Cette session s'appuie sur le modèle du cycle en V pour détailler la chaîne d'outils mise en œuvre de la simulation au test, en passant par le prototypage rapide et la validation du système. Des exemples d'applications seront présentés, comme des systèmes de mesure multivoies à cohérence de phase, d'acquisition comprimée pour la reconstruction de signaux et de génération de cible pour le test de systèmes.
Intervenant : Raffaele Fiengo, Responsable du développement - Aérospatiale & Défense, National Instruments

 Revoir la présentation

Prototyper des systèmes 5G sans fil de nouvelle génération avec la radio logicielle

La radio logicielle permet d'itérer rapidement des programmes car elle reflète très précisément les fonctionnalités propres aux appareils sans fil réels, avec une souplesse de couverture de fréquence améliorée et un traitement en bande de base reprogrammable. Cette présentation abordera l'approche basée plate-forme dans le cadre de la conception de la nouvelle génération de systèmes sans fil. Celle-ci permet aux équipes de conception d'utiliser plus efficacement du matériel et des outils logiciels récents et plus avancés, et de réduire le temps nécessaire au déploiement en favorisant la réutilisation des ressources tout au long du cycle de développement, de validation, de vérification et de déploiement du produit.
Intervenant : Erik Luther, Directeur de l'équipe SDR, National Instruments

Revoir la présentation